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有關(guān)于一維測高儀的使用特點(diǎn)
日期:2024-08-03 18:05
瀏覽次數(shù):1887
摘要:
一維測高儀的重點(diǎn)用于優(yōu)點(diǎn):
1.適合現(xiàn)場及質(zhì)檢室的量檢及抽檢
2.本身具有線形補(bǔ)正,可依現(xiàn)場條件做精度補(bǔ)正,以提高**度,避免條件差別。
3.可提供多種量測,解決一般工具無法量測的問題。
一維測高儀的重點(diǎn)用于參數(shù)表格如下:
1.適合現(xiàn)場及質(zhì)檢室的量檢及抽檢
2.本身具有線形補(bǔ)正,可依現(xiàn)場條件做精度補(bǔ)正,以提高**度,避免條件差別。
3.可提供多種量測,解決一般工具無法量測的問題。
一維測高儀的重點(diǎn)用于參數(shù)表格如下:
型 號 |
V304+/V304C+/V305/V304C |
V604+/V604C+ |
V1004C |
量測范圍 |
0-300mm |
0-600mm |
0-1000mm |
分辨率 |
0.01/0.001mm |
0.01/0.001mm |
0.01/0.001mm |
*大可以差別 |
2.5+(L(mm)/400)μm |
2.5+(L(mm)/400)μm |
2.5+(L(mm)/400)μm |
重復(fù)性 |
1μm(+/-2S) |
1μm(+/-2S) |
1μm(+/-2S) |